SVII-K100 – Sistem de Inspecție 3D AOI pentru Șabloane cu Rezoluție Înaltă
Rezoluție 10μm • 3D AOI • Sistem Dual de Iluminare • Windows 10
Prezentare Generală
SVII-K100 este un sistem avansat de inspecție 3D AOI pentru șabloane, proiectat pentru a asigura cea mai înaltă calitate în procesul de imprimare a pastei de lipire. Cu rezoluție de 10μm și iluminare duală avansată, detectează chiar și cele mai mici defecte, devenind un instrument esențial în producția SMT de înaltă fiabilitate.
Caracteristici Principale
Rezoluție Înaltă 10μm – detectarea celor mai mici defecte ale șablonului
Metodă de Inspecție 3D AOI – analiză tridimensională completă a șablonului
Sistem Avansat de Iluminare: Lumină Coaxială Roșie Sus + LED Alb Personalizat Jos
Sistem de Operare Windows 10 – interfață stabilă și ușor de utilizat
Câmp Vizual Mare până la 18,6 × 14 mm
Viteză de Inspecție Rapidă până la 0,5 s pe FOV
Suport pentru conexiune Ethernet / WiFi
De ce să alegeți SVII-K100?
Rezoluție ultra-înaltă pentru componentele miniaturale de astăzi
Inspecție 3D completă pentru calitate perfectă a șablonului
